[01041685]数控刀架综合检测仪
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技术详细介绍
数控刀架的转位误差和重复定位误差的测量普遍采用打表法测量，其分辨率和测量精度难以满足数控刀架测量的需要。数控刀架综合检测仪是哈尔滨理工大学承担的“九五”国家重点科技攻关项目“数控技术与装备工程化的开发研究”的成果之一，该仪器采用高精度非接触测量方式进行检测，仪器分辨率达0.1μm，测量精度达±1μm。可方便地对数控刀架转位误差和重复定位误差进行高精度、高分辨率的测量。仪器由测量光管、微调架和仪器箱（内含测量放大电路、单片机与刀架接口电路、单片机系统）等部分组成。测量光管采用半导体激光器作为仪器光源，采用光电池作传感器，实现了位移信号非接触光电转换。测出的各工位测杆的位置信号经A/D转换后存入单片机进行数据处理，测出的转位误差和重复定 位误差由显示器循环显示。技术指标：仪器量程：±100μm；分辨率：0.1μm；测量精度：±1μm；预热时间：约五分钟；环境温度：10℃-30℃。