技术详细介绍
对二极管、三极管、MOS-FET、接合型FET等分立器件的各种电气特性进行高速测试。采用主从式结构。从机采用嵌入式操作系统，完成实时控制；主机用于显示，系统维护和管理。主机具有测试程序编辑储存、统计管理、网络通讯等功能。从机控制部分采用MCF5272嵌入式模块。总线驱动采用EPLD的芯片技术，集成度高，速度快，可实现复杂逻辑关系保密性强。电压达到800V，电流达到2.5A。基本满足了常用晶体管测试的需要。
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