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[00110558]低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:200810011420.4

交易方式: 技术转让

联系人: 东北大学

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所在地:辽宁沈阳市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

  一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法,属于分析检测技术领域,包括以下步骤:(1)选取汞的检测波长与背景校正波长;(2)绘制汞标准工作曲线;(3)测定待测溶液的汞含量;低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的方法所采用的装置,包括蒸气发生进样系统、低温等离子体发生室、高频高压电源 和光谱仪。本发明的有益效果是:介质阻挡放电的低温等离子体激发光源,无高温环境存在,大大降低了能耗,并使其供能系统简单,造价低廉且日常运行消耗很低。
  一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法,属于分析检测技术领域,包括以下步骤:(1)选取汞的检测波长与背景校正波长;(2)绘制汞标准工作曲线;(3)测定待测溶液的汞含量;低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的方法所采用的装置,包括蒸气发生进样系统、低温等离子体发生室、高频高压电源 和光谱仪。本发明的有益效果是:介质阻挡放电的低温等离子体激发光源,无高温环境存在,大大降低了能耗,并使其供能系统简单,造价低廉且日常运行消耗很低。

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