[00111628]微米至亚微米级颗粒物折射率的测量装置及其方法
交易价格：
面议
所属行业：
类型：
专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN200410051398.8
交易方式：
技术转让
联系人：
华南师范大学
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所在地：广东广州市
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技术详细介绍
微米至亚微米级颗粒物折射率的测量装置，是在现有动态光散射仪包括激光器、光源聚光镜、样品瓶、样品池、针孔、散射光聚光镜、光纤、光电倍增管、信号放大甄别器、脉冲计数器、光子相关器、计算机、匹配液过滤装置和温控装置的基础上增加一个改进的静态光散射法的采集与处理装置，它由含聚光镜的多头光纤传感器、六维调节架、电荷耦合器件、驱动电路、数据采集卡和计算机连接构成。本发明还涉及该装置的测量方法。本装置和方法可以有效地测量微米至亚微米级颗粒物的折射率，尤其适用于300nm～3μm的颗粒物。
微米至亚微米级颗粒物折射率的测量装置，是在现有动态光散射仪包括激光器、光源聚光镜、样品瓶、样品池、针孔、散射光聚光镜、光纤、光电倍增管、信号放大甄别器、脉冲计数器、光子相关器、计算机、匹配液过滤装置和温控装置的基础上增加一个改进的静态光散射法的采集与处理装置，它由含聚光镜的多头光纤传感器、六维调节架、电荷耦合器件、驱动电路、数据采集卡和计算机连接构成。本发明还涉及该装置的测量方法。本装置和方法可以有效地测量微米至亚微米级颗粒物的折射率，尤其适用于300nm～3μm的颗粒物。
