[01144904]一种基于最大近似相容的分组测试向量的编码压缩方法

①课题来源与背景 SoC芯片内部非常复杂,在测试上主要遇到的问题之一：测试数据量的剧增和测试时间的延长。随着集成电路规模的增长,测试一片SoC所需的测试数据量也会越来越多,而基于同样的自动测试设备（automatic test equipment,ATE）的前提下,测试数据量的增加,也就意味着测试时间的延长。测试数据的剧增提高了对ATE 存储性能、传输带宽、工作频率的要求。而提高ATE性能意味着测试成本大大的增加,因此,面对急剧增长的测试数据量,探究有效的压缩方法非常有实际意义。虽然ATE的性能也在不断的提升,但面对急剧增长的测试数据量来说,此时ATE也倍感压力,越来越力不从心。因此,有效地减少测试数据量、降低对ATE的性能要求在整个SoC测试过程中是非常重要的,也是非常迫切的。测试数据压缩（Test Data Compression,TDC）技术是一种有效的解决上述问题的良好途径,目前,它可以划分为以下两个大的研究方面：内建自测试（Build-in Self-Test,BIST）、外建自测试（Build-off Self-Test,BOST）。测试数据压缩的压缩方法能够有效编码压缩预先计算的源测试数据集,并通过片上解压缩器进行解压缩,从这个角度上看也是一种非常优秀的编码方案。 ②技术原理及性能指标 在对源测试数据集的编码压缩研究发现,对兼容的测试数据集进行压缩时,如果每个测试向量的长度很长的话,压缩后的测试向量几乎不存在无关位时,各个测试向量之间兼容性将很大程度的降低,从而使得源测试数据集基本得不到进一步的压缩。在扫描树技术中,一条长度为n的扫描链存放m个测试向量,在对n个扫描单元寻找兼容性时,如果各个扫描单元之间不存在互相相容,那么通过对扫描单元进行图着色获取近似兼容的扫描单元,进而可以使得在一定范围内的不完全兼容的扫描单元定义为近似兼容,从而近似兼容的扫描单元简称为在一个兼容组内,同时可以在同一级接收相同的测试数据,很大程度的降低了测试运行时间。 本成果提出了一种基于最大近似相容的分组测试向量的编码压缩方法,应用于对经过基于编码的测试数据压缩方法压缩后的测试数据进行进一步压缩,首先需要一个存储器用于存储源测试数据集的分组的测试向量,在源测试数据集不存在无关位时,将测试向量等分划分,求得各相邻分组测试向量间的不兼容组数,在满足最大 近似相容度范围时,对相邻的分组测试向量进行编码压缩。 ③技术的创造性与先进性 本成果的创造性在于对压缩后的测试数据再考虑各个测试向量间的近似兼容性,使得压缩后几乎没有无关位的测试数据集中完全不兼容的测试向量间使用分组之后能够近似兼容,兼容的测试向量能够进一步编码压缩。 本发明相比现有技术具有以下优点：使压缩后的测试数据更易于压缩,发挥到最大的压缩效果,减少测试数据体积。 ④技术的成熟程度,适用范围和安全性 本技术已完全成熟,可以直接应用于集成电路测试领域,其具体应用于集成封装流片以后,将本技术应用于封装后的芯片测试,可以提高测试效率,减少测试成本。 本技术适用范围较广,主要为集成电路测试领域。本技术是一种通用的集成电路测试方法,可以应用于所有集成电路的测试。 本技术完全安全,不会对被测电路有任何影响。可以将被测电路当成黑盒测试,无需了解被测电路的内部结构,要以很好的保护知识产权。既能保护本技术又能保护被测电路。 ⑤应用情况及存在的问题 本技术已在实验室验证可用,目前还未实际应用,正在找市场。