[01203204]基于激光跟踪复合式测量的数控机床精度检测方法
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技术详细介绍
本发明公开了一种基于激光跟踪复合式测量的数控机床精度检测方法,控制数控机床按照预先设定的路径在三维空间或二维平面进给,一台激光跟踪仪先后在至少三个基站位置,对数控机床相同的运动轨迹进行测量,通过对测量数据处理得到数控机床在各测量点处的运动误差。测量过程中,以激光跟踪仪测出的空间点坐标为参数值,确定出激光跟踪仪所在基站的初始位置,再以激光跟踪仪的测距信息,进一步确定基站的空间位置,然后确定出各测量点的空间坐标。本发明解决了测量时基站位置初值不易确定的问题,提高了基站和测量点标定的可靠性和计算效率,具有快速、精度高等优点,能够满足不同类型数控机床精度的要求。