技术详细介绍
采用了用于测量单相电度的专用芯片来测量单相电参数和三相电参数，因为单相电度测量芯片市场用量大所以价格便宜，通过本技术方案设计使得比用专用单相电参数和三相电参数测量芯片方案的器件成本低很多，产品具有竞争力；上述授权专利只是本方案的独到的技术特点，不代表整体技术方案，另外本技术方案已经在知名仪表厂家试生产过，可进入产业化阶段，表格处可填的产业化相关凭证不便传送。
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