[00127989]基于4f相位成像技术的高精度纳米薄膜的折射率测量仪
交易价格：
面议
所属行业：
类型：
非专利
技术成熟度：
通过小试
交易方式：
技术转让
技术入股
技术转让
联系人：
常熟微纳激光光子技术有限公司
进入空间
所在地：江苏苏州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本项目研究基于非线性光学原理的新型高精度折射率测量仪，采用最近几年才提出的4f相位成像技术，不但降低了仪器对测试条件的要求，也简化了测试仪器的操作难度，制造成本大幅降低，符合国家支持高灵敏、高分辨率、高精密仪器仪表的政策导向。该测量仪可以测量纳米薄膜的折射率和厚度，为纳米薄膜产业的发展提供新的测试手段及技术支持，对于提高我国光学薄膜产业技术竞争力具有一定意义。此外，该测试仪的开发具有独立知识产权，能够打破国外厂家对高精度椭偏仪的长期垄断，也可以其精度高、操作简单、售价低的优势开拓国际市场。
本项目研究基于非线性光学原理的新型高精度折射率测量仪，采用最近几年才提出的4f相位成像技术，不但降低了仪器对测试条件的要求，也简化了测试仪器的操作难度，制造成本大幅降低，符合国家支持高灵敏、高分辨率、高精密仪器仪表的政策导向。该测量仪可以测量纳米薄膜的折射率和厚度，为纳米薄膜产业的发展提供新的测试手段及技术支持，对于提高我国光学薄膜产业技术竞争力具有一定意义。此外，该测试仪的开发具有独立知识产权，能够打破国外厂家对高精度椭偏仪的长期垄断，也可以其精度高、操作简单、售价低的优势开拓国际市场。
