技术详细介绍
本发明涉及检测光学器件光谱特性的方法及装置。现有检测仪器结构复杂、价格昂贵。本发明方法首先选择合适的傅立叶域锁模光纤激光器、光隔离器、光纤功分器和光电探头，然后将待检测光学元器件与检测装置连接，最后根据数据处理模块得到的参考信号和测量信号计算出待检测光学器件光谱。本发明的装置中傅立叶域锁模光纤激光器发出的激光经光隔离器和光纤功分器后分为两路，一路经待检测光学元器件和光电探头后与数据处理模块连接；另一路经另一个光电探头后与数据处理模块连接。本发明的测量范围大，成本低廉，方法简单。
本发明涉及检测光学器件光谱特性的方法及装置。现有检测仪器结构复杂、价格昂贵。本发明方法首先选择合适的傅立叶域锁模光纤激光器、光隔离器、光纤功分器和光电探头，然后将待检测光学元器件与检测装置连接，最后根据数据处理模块得到的参考信号和测量信号计算出待检测光学器件光谱。本发明的装置中傅立叶域锁模光纤激光器发出的激光经光隔离器和光纤功分器后分为两路，一路经待检测光学元器件和光电探头后与数据处理模块连接；另一路经另一个光电探头后与数据处理模块连接。本发明的测量范围大，成本低廉，方法简单。
客服咨询
400-649-1633
工作日：08:30-21:00
节假日：08:30-12:00
13:30-17:30