技术详细介绍
本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。
本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。本发明涉及一种基于连续阶跃参考应力的满应力结构拓扑优化设计方法:在结构的高应力区硬化材料,在低应力区软化材料。以一种可连续阶跃变化的参考应力作为评判标准,通过局部寻优和全局寻优两个寻优循环,避免寻优过程中的早熟现象,使结构的应力分布逐步趋优。