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[01915081]强磁场作用下制备硅片织构

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 非专利

技术成熟度: 正在研发

交易方式: 技术转让

联系人:周秋忠

所在地:辽宁沈阳市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

在非磁场和1T 、2T 、3T 、4T 磁场作 用下,用 NaOH 溶液腐蚀制备多晶硅表面 织构,随磁感应强度增强,溶液中的带 电粒子受磁场的洛伦兹力作用增大,搅 拌作用增强,导致多晶硅片腐蚀速度加 快,腐蚀程度增强;随磁感应强度增强运动方向与磁场方向不完全一致的 OH-离子受磁场的洛伦兹力作用增大,使得 OH-离子对分布于磁场方向的旁侧的硅原子的作用更加细致,导致多晶硅碱液 腐蚀过程中出现的不利于后续处理的断层状结构变得细腻,硅片绒面结构变得 均匀;随磁感应强度增强,多晶硅片反射率降低,磁感应强度为4T 时反射率降 低到14.5%,在碱液腐蚀制备多晶硅表面织构过程中施加强磁场减反射效果显 著。
在非磁场和1T 、2T 、3T 、4T 磁场作 用下,用 NaOH 溶液腐蚀制备多晶硅表面 织构,随磁感应强度增强,溶液中的带 电粒子受磁场的洛伦兹力作用增大,搅 拌作用增强,导致多晶硅片腐蚀速度加 快,腐蚀程度增强;随磁感应强度增强运动方向与磁场方向不完全一致的 OH-离子受磁场的洛伦兹力作用增大,使得 OH-离子对分布于磁场方向的旁侧的硅原子的作用更加细致,导致多晶硅碱液 腐蚀过程中出现的不利于后续处理的断层状结构变得细腻,硅片绒面结构变得 均匀;随磁感应强度增强,多晶硅片反射率降低,磁感应强度为4T 时反射率降 低到14.5%,在碱液腐蚀制备多晶硅表面织构过程中施加强磁场减反射效果显 著。

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