[01915081]强磁场作用下制备硅片织构
交易价格:
面议
所属行业:
类型:
非专利
技术成熟度:
正在研发
交易方式:
技术转让
联系人:周秋忠
所在地:辽宁沈阳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
在非磁场和1T 、2T 、3T 、4T 磁场作 用下,用 NaOH 溶液腐蚀制备多晶硅表面 织构,随磁感应强度增强,溶液中的带 电粒子受磁场的洛伦兹力作用增大,搅 拌作用增强,导致多晶硅片腐蚀速度加 快,腐蚀程度增强;随磁感应强度增强运动方向与磁场方向不完全一致的 OH-离子受磁场的洛伦兹力作用增大,使得 OH-离子对分布于磁场方向的旁侧的硅原子的作用更加细致,导致多晶硅碱液 腐蚀过程中出现的不利于后续处理的断层状结构变得细腻,硅片绒面结构变得 均匀;随磁感应强度增强,多晶硅片反射率降低,磁感应强度为4T 时反射率降 低到14.5%,在碱液腐蚀制备多晶硅表面织构过程中施加强磁场减反射效果显 著。
在非磁场和1T 、2T 、3T 、4T 磁场作 用下,用 NaOH 溶液腐蚀制备多晶硅表面 织构,随磁感应强度增强,溶液中的带 电粒子受磁场的洛伦兹力作用增大,搅 拌作用增强,导致多晶硅片腐蚀速度加 快,腐蚀程度增强;随磁感应强度增强运动方向与磁场方向不完全一致的 OH-离子受磁场的洛伦兹力作用增大,使得 OH-离子对分布于磁场方向的旁侧的硅原子的作用更加细致,导致多晶硅碱液 腐蚀过程中出现的不利于后续处理的断层状结构变得细腻,硅片绒面结构变得 均匀;随磁感应强度增强,多晶硅片反射率降低,磁感应强度为4T 时反射率降 低到14.5%,在碱液腐蚀制备多晶硅表面织构过程中施加强磁场减反射效果显 著。