[01917737]一种显微镜点扩散函数的测量方法和装置
联系人：巩秀钢
所在地：山东淄博市
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技术详细介绍
显微成像系统的点扩散函数测量方法有星点探测法、刃边法以及荧 光微球测量法等。对于显微系统来说，景深范围内沿光轴方向不同纵向 高度物面上的点扩散函数是不同，上述方法虽然能实现点扩散函数的测 量，但却不能确定所得到的点扩散函数位于显微成像景深范围内哪层物 面上，即这些方法无法确定出垂直于显微镜光轴的纵向物面，无法真正 实现三维点扩散函数的测量。本专利提供一种显微镜点扩散函数的测量 方法和装置，包括：确定光纤激光头的第一位置坐标，以使第一线偏振 光射入第一探测器，且第一探测器检测到第一线偏振光的单位方向向量 为预设单位方向向量；获取第二探测器发送的第二位置坐标组，以及获 取显微镜的像面上的光斑图像；基于对光斑图像，预设单位方向向量和 第二位置坐标组，确定出显微镜的显微放大倍数组；结合归一化函数和 显微放大倍数组，确定出点扩散函数组，解决了现有显微镜点扩散函数 测量技术中无法准确确定出垂直于显微镜光轴纵向物面的技术问题，实 现垂直于显微镜光轴纵向物面上三维点扩散函数测量。