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[00206254]Li掺杂生长p型透明导电Ni1-xMgxO晶体薄膜

交易价格: 面议

所属行业: 其他新材料技术

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:201210541828.9

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 太原理工大学

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所在地:山西太原市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍

  一种Li掺杂生长p型透明导电Ni1-xMgxO晶体薄膜的方法(专利号201210541828.9),是采用脉冲激光沉积法,将NiO、MgO和Li2CO3粉末球磨混合后,压型并高温烧结,制得掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶材;再将陶瓷靶材与衬底置入脉冲激光沉积装置,调整靶材与衬底间距,在适当的衬底温度、氧气压强和激光频率下进行生长,后冷却至室温,获得Li掺杂Ni1-xMgxO晶体薄膜。本发明方法所制备的晶体薄膜呈p型电导,具有低电阻率、高透射率、高载流子迁移率和带隙连续可调等优良特性;而且方法简单,实现了实时掺杂,掺杂浓度通过调节生长温度和靶材中Li和Mg的含量来控制,得到的薄膜在透明电子和光电子器件等领域具有广泛的应用前景。

  一种Li掺杂生长p型透明导电Ni1-xMgxO晶体薄膜的方法(专利号201210541828.9),是采用脉冲激光沉积法,将NiO、MgO和Li2CO3粉末球磨混合后,压型并高温烧结,制得掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶材;再将陶瓷靶材与衬底置入脉冲激光沉积装置,调整靶材与衬底间距,在适当的衬底温度、氧气压强和激光频率下进行生长,后冷却至室温,获得Li掺杂Ni1-xMgxO晶体薄膜。本发明方法所制备的晶体薄膜呈p型电导,具有低电阻率、高透射率、高载流子迁移率和带隙连续可调等优良特性;而且方法简单,实现了实时掺杂,掺杂浓度通过调节生长温度和靶材中Li和Mg的含量来控制,得到的薄膜在透明电子和光电子器件等领域具有广泛的应用前景。

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