X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
帮助中心 | 关于我们
欢迎来到辽阳市科技创新服务平台,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00021877]光滑表面疵病的自动化检测系统

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 非专利

技术成熟度: 正在研发

交易方式: 技术转让

联系人: 陈鹏飞

进入空间

所在地:浙江杭州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
|
收藏
|

技术详细介绍

技术投资分析:   光滑表面疵病的自动化检测系统是利用光学显微散射暗场成像技术与先进的基于数学形态学的数字图像处理算法结合研制的新颖非接触的检测设备。系统具有环形分布的光源可以采集任意方向疵病的CCD图像;利用光学显微散射暗场成像可以达到对被测疵病实现微米量级的分辨率;精密的二维扫描系统与数字图像处理算法结合可以实现对大口径表面疵病完成子孔径扫描和拼接;采用二元光学的标准板定标程序及可以实现对疵病如划痕几何尺寸的定量检测并精确确定光滑表面上每个疵病的几何参数的方位,最终自动输出疵病检测报告。该系统是目前国内首台可以对各种光滑的光学元件和金属表面的各种划痕、麻点、碎边等疵病实现高分辨率、快速、数字化定量检测的先进的高科技设备,可有效解决人为的目视观察评估由于主观因素介入导致检测的准确度低,效率低的难题。系统可以应用于高精度的光学元件、激光器谐振腔、微光元件、光滑的金属及硅片表面、手机外壳、微缩文字等各类表面疵病的检测和文字校验。 仪器技术指标:   1. 被检疵病样品的检测口径:50mm×50mm~100mm×100mm,更大口径可由用户提出研制;   2. 疵病检测分辨率:最小可达微米量级;   3. 检测的疵病几何特征:各种划痕、麻点、破边等、文字缺损校验;   4. 照明及成像系统:环形均匀光源照明系统、0.7×~4.5×变倍显微镜成像系统实现显微散射暗场成像;   5. 检测方法:计算机自动控制二维移导系统实现对光滑表面的子孔径扫描;   6. 标准评价:利用二元光学制作标准比对板定量评估;   7. 仪器检测精度:疵病几何长度相对误差优于2%、划痕宽度误差控制在微米量级;   8. 数据采集系统:科学级CCD相机,空间分辨率约1K×1K左右或更高。   9. 自动化评估软件要求:    全口径子孔径扫描控制、图像匹配拼接、图像数据处理软件;    二元光学制作标准比对板数据库及评估系统;    全口径表面疵病分布及类型的数据输出;    微缩文字缺损校验评估;    软件具有友好的人机交互图形工作界面,工作于Windows2000以上平台。 技术的应用领域前景分析: 本系统可应用于高科技的光学、材料、微电子等国民经济诸多领域:   1. 系统可以应用于高精度的光学元件、激光器谐振腔、微光元件等光滑的光学元件表面的任意方向疵病如各种划痕、麻点、碎边进行非接触的数字化定量检测,并实时输出检测报告。   2. 系统可以对光滑的金属及硅片表面的疵病进行非接触的数字化定量检测,并实时输出检测报告。   3. 系统可以对光滑的手机外壳、高精度的液晶屏进行表面的划痕、麻点实现数字化定量检测。   4. 对各种精密的具有微缩文字的光滑表面实现文字和图形的缺损检测。 效益分析:   该技术国内领先,达到国际先进水平,必将产生巨大的经济效益和社会效益。 厂房条件建议: 无 备注: 无
技术投资分析:   光滑表面疵病的自动化检测系统是利用光学显微散射暗场成像技术与先进的基于数学形态学的数字图像处理算法结合研制的新颖非接触的检测设备。系统具有环形分布的光源可以采集任意方向疵病的CCD图像;利用光学显微散射暗场成像可以达到对被测疵病实现微米量级的分辨率;精密的二维扫描系统与数字图像处理算法结合可以实现对大口径表面疵病完成子孔径扫描和拼接;采用二元光学的标准板定标程序及可以实现对疵病如划痕几何尺寸的定量检测并精确确定光滑表面上每个疵病的几何参数的方位,最终自动输出疵病检测报告。该系统是目前国内首台可以对各种光滑的光学元件和金属表面的各种划痕、麻点、碎边等疵病实现高分辨率、快速、数字化定量检测的先进的高科技设备,可有效解决人为的目视观察评估由于主观因素介入导致检测的准确度低,效率低的难题。系统可以应用于高精度的光学元件、激光器谐振腔、微光元件、光滑的金属及硅片表面、手机外壳、微缩文字等各类表面疵病的检测和文字校验。 仪器技术指标:   1. 被检疵病样品的检测口径:50mm×50mm~100mm×100mm,更大口径可由用户提出研制;   2. 疵病检测分辨率:最小可达微米量级;   3. 检测的疵病几何特征:各种划痕、麻点、破边等、文字缺损校验;   4. 照明及成像系统:环形均匀光源照明系统、0.7×~4.5×变倍显微镜成像系统实现显微散射暗场成像;   5. 检测方法:计算机自动控制二维移导系统实现对光滑表面的子孔径扫描;   6. 标准评价:利用二元光学制作标准比对板定量评估;   7. 仪器检测精度:疵病几何长度相对误差优于2%、划痕宽度误差控制在微米量级;   8. 数据采集系统:科学级CCD相机,空间分辨率约1K×1K左右或更高。   9. 自动化评估软件要求:    全口径子孔径扫描控制、图像匹配拼接、图像数据处理软件;    二元光学制作标准比对板数据库及评估系统;    全口径表面疵病分布及类型的数据输出;    微缩文字缺损校验评估;    软件具有友好的人机交互图形工作界面,工作于Windows2000以上平台。 技术的应用领域前景分析: 本系统可应用于高科技的光学、材料、微电子等国民经济诸多领域:   1. 系统可以应用于高精度的光学元件、激光器谐振腔、微光元件等光滑的光学元件表面的任意方向疵病如各种划痕、麻点、碎边进行非接触的数字化定量检测,并实时输出检测报告。   2. 系统可以对光滑的金属及硅片表面的疵病进行非接触的数字化定量检测,并实时输出检测报告。   3. 系统可以对光滑的手机外壳、高精度的液晶屏进行表面的划痕、麻点实现数字化定量检测。   4. 对各种精密的具有微缩文字的光滑表面实现文字和图形的缺损检测。 效益分析:   该技术国内领先,达到国际先进水平,必将产生巨大的经济效益和社会效益。 厂房条件建议: 无 备注: 无

推荐服务:

主办单位:辽阳市科学技术局

技术支持单位:科易网

辽ICP备16017206号-1

辽公网安备 21100302203138号

关于我们

平台简介

联系我们

客服咨询

400-649-1633

工作日:08:30-21:00

节假日:08:30-12:00

13:30-17:30