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[00229932]一种倾斜式超大高宽比AFM探针及其制备方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201110366696.6

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

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所在地:江苏苏州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍

摘要:本发明揭示了微纳机械传感器领域中的一种倾斜式超大高宽比AFM探针及其制备方法。该探针包括倾斜式针尖、悬臂梁及主体支撑结构,其特征在于采用顶层硅厚度等于AFM探针悬臂梁厚度的(100)型SOI硅片为制备原料;首先在SOI硅片的顶层硅上应用湿法刻蚀工艺形成AFM探针的悬臂梁,之后在位于悬臂梁顶端的(111)面上制备催化剂颗粒;然后采用化学气相沉积工艺进行硅纳米线的生长形成AFM探针的针尖,得到目标产物。本发明采用硅纳米线生长工艺形成探针的针尖,突破了当前工艺对倾斜式超大高宽比AFM探针制备的限制,真正实现了倾斜式超大高宽比AFM探针可控制备。
摘要:本发明揭示了微纳机械传感器领域中的一种倾斜式超大高宽比AFM探针及其制备方法。该探针包括倾斜式针尖、悬臂梁及主体支撑结构,其特征在于采用顶层硅厚度等于AFM探针悬臂梁厚度的(100)型SOI硅片为制备原料;首先在SOI硅片的顶层硅上应用湿法刻蚀工艺形成AFM探针的悬臂梁,之后在位于悬臂梁顶端的(111)面上制备催化剂颗粒;然后采用化学气相沉积工艺进行硅纳米线的生长形成AFM探针的针尖,得到目标产物。本发明采用硅纳米线生长工艺形成探针的针尖,突破了当前工艺对倾斜式超大高宽比AFM探针制备的限制,真正实现了倾斜式超大高宽比AFM探针可控制备。

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