[00230896]多通道磁共振射频线圈性能评估方法及其装置
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610447319.8
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
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-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明提供一种多通道磁共振射频线圈性能评估方法及其装置，该方法包括：获取一多通道磁共振射频线圈中各通道射频线圈所采集的待测区的信号图像和相应的噪声图像；利用各所述噪声图像计算得到所述多通道磁共振射频线圈的噪声耦合矩阵；利用所述信号图像和所述噪声耦合矩阵，通过平方和方法与协方差加权和方法分别计算所述多通道磁共振射频线圈的信噪比图像，得到第一信噪比图像和第二信噪比图像；通过比较所述第一信噪比图像和所述第二信噪比图像评估所述多通道磁共振射频线圈的性能。本发明能够简单有效地评估多通道磁共振射频线圈的性能。
本发明提供一种多通道磁共振射频线圈性能评估方法及其装置，该方法包括：获取一多通道磁共振射频线圈中各通道射频线圈所采集的待测区的信号图像和相应的噪声图像；利用各所述噪声图像计算得到所述多通道磁共振射频线圈的噪声耦合矩阵；利用所述信号图像和所述噪声耦合矩阵，通过平方和方法与协方差加权和方法分别计算所述多通道磁共振射频线圈的信噪比图像，得到第一信噪比图像和第二信噪比图像；通过比较所述第一信噪比图像和所述第二信噪比图像评估所述多通道磁共振射频线圈的性能。本发明能够简单有效地评估多通道磁共振射频线圈的性能。
