[00231452]半扫描位置的确定方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201210008643.1
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种半扫描位置的确定方法，通过统计IAng在每一个取值下的连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息总和记为F(IAng)，其中，IAng为投影起始角度，及统计IAng在每一个取值下待扫描组织的辐射吸收剂量，并统计所有所述辐射吸收剂量的总和，记为D(IAng)；然后将公式Max(c1F(IAng)-c2D(IAng))的值所对应的IAng确定为起始半扫描位置；式中，IAng＝1，2，3...，N，c1、c2分别为边界信息和辐射剂量的加权因子。上述半扫描位置的确定方法，通过在不同起始角度下对连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息统计和辐射剂量的统计，进而根据图像质量和辐射剂量的要求确定最优半扫描位置。
一种半扫描位置的确定方法，通过统计IAng在每一个取值下的连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息总和记为F(IAng)，其中，IAng为投影起始角度，及统计IAng在每一个取值下待扫描组织的辐射吸收剂量，并统计所有所述辐射吸收剂量的总和，记为D(IAng)；然后将公式Max(c1F(IAng)-c2D(IAng))的值所对应的IAng确定为起始半扫描位置；式中，IAng＝1，2，3...，N，c1、c2分别为边界信息和辐射剂量的加权因子。上述半扫描位置的确定方法，通过在不同起始角度下对连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息统计和辐射剂量的统计，进而根据图像质量和辐射剂量的要求确定最优半扫描位置。
