[00231591]荧光散射光学断层成像系统及方法
交易价格：
面议
所属行业：
纳米及超细材料
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610485867.X
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种荧光散射光学断层成像系统及方法，该系统包括：载物台，用于承载样品，所述样品被植入纳米材料，所述纳米材料经X射线照射发出冷光，经激光照射发出荧光；X射线源，用于向所述载物台上的样品发射X射线；X射线平板探测器，用于获得所述样品经X射线照射的CT成像；EMCCD，用于获得所述样品经X射线照射的XLCT成像；激光器，用于向所述样品发射激光；所述EMCCD还用于获得所述样品经激光照射的激光图像和荧光图像，所述激光图像、荧光图像和CT成像用于重建FDOT成像。本发明可以获得较为准确的深度信息，降低重建难度且缩短数据采集周期。
本发明公开了一种荧光散射光学断层成像系统及方法，该系统包括：载物台，用于承载样品，所述样品被植入纳米材料，所述纳米材料经X射线照射发出冷光，经激光照射发出荧光；X射线源，用于向所述载物台上的样品发射X射线；X射线平板探测器，用于获得所述样品经X射线照射的CT成像；EMCCD，用于获得所述样品经X射线照射的XLCT成像；激光器，用于向所述样品发射激光；所述EMCCD还用于获得所述样品经激光照射的激光图像和荧光图像，所述激光图像、荧光图像和CT成像用于重建FDOT成像。本发明可以获得较为准确的深度信息，降低重建难度且缩短数据采集周期。
