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[00232061]一种扫描探针显微镜中的探针、其制备方法及探测方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410494757.0

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 中科院宁波先进制造所

进入空间

所在地:浙江宁波市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

摘要:本发明提供了一种扫描探针显微镜中的探针。该探针由探针臂与针尖组成,针尖由针尖本体,以及依次位于针尖本体表面的薄膜一、薄膜二、薄膜三组成;薄膜一具有导电性;薄膜二具有电绝缘性;薄膜三具有磁性与导电性,或者薄膜三具有导电性;薄膜一与薄膜三的材料不同,并且薄膜一、薄膜二和薄膜三构成热电偶结构。利用该探针能够对多功能材料的磁、电、热多参量进行原位表征,从而能够原位、直观地研究材料的电-热、磁-热,以及磁-电-热之间的耦合规律与机制。
摘要:本发明提供了一种扫描探针显微镜中的探针。该探针由探针臂与针尖组成,针尖由针尖本体,以及依次位于针尖本体表面的薄膜一、薄膜二、薄膜三组成;薄膜一具有导电性;薄膜二具有电绝缘性;薄膜三具有磁性与导电性,或者薄膜三具有导电性;薄膜一与薄膜三的材料不同,并且薄膜一、薄膜二和薄膜三构成热电偶结构。利用该探针能够对多功能材料的磁、电、热多参量进行原位表征,从而能够原位、直观地研究材料的电-热、磁-热,以及磁-电-热之间的耦合规律与机制。

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