[00242072]CT探测器偏转角的确定方法和装置
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201310582495.9
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院过程工程研究所
进入空间
所在地：北京北京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括：使用待测CT对被测物体进行全周扫描，获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2；以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点，以探测器阵列所在直线为X轴，建立坐标系，计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2；计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD；根据RD、q1和q2，确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体，仅通过直接扫描被测物体，并对采集的原始数据进行简单的运算，即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。
摘要：本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括：使用待测CT对被测物体进行全周扫描，获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2；以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点，以探测器阵列所在直线为X轴，建立坐标系，计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2；计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD；根据RD、q1和q2，确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体，仅通过直接扫描被测物体，并对采集的原始数据进行简单的运算，即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。
