[00242074]一种CT投影中心的自动校正方法
交易价格：
面议
所属行业：
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN200810112193.4
交易方式：
技术转让
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技术入股
联系人：
中国科学院过程工程研究所
进入空间
所在地：北京北京市
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- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明提供一种CT投影中心的自动校正方法，包括如下步骤：1)使用CT对被测物进行全周扫描，得到在不同角度下被测物在探测器阵列的各探测器单元的投影原始数据；2)对所述投影原始数据进行数据处理，找出在所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置；3)根据所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置计算出CT投影中心并对所述投影原始数据进行校正，得到最终的二维断层数据。本发明无需采用专用模体，无需移动被测物，即可对CT的中心投影位置进行校正，而且本发明的各校正步骤可以编入重建前处理程序自动运行，节约了测量时间，延长了射线源及探测器的有效工作寿命。
摘要：本发明提供一种CT投影中心的自动校正方法，包括如下步骤：1)使用CT对被测物进行全周扫描，得到在不同角度下被测物在探测器阵列的各探测器单元的投影原始数据；2)对所述投影原始数据进行数据处理，找出在所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置；3)根据所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置计算出CT投影中心并对所述投影原始数据进行校正，得到最终的二维断层数据。本发明无需采用专用模体，无需移动被测物，即可对CT的中心投影位置进行校正，而且本发明的各校正步骤可以编入重建前处理程序自动运行，节约了测量时间，延长了射线源及探测器的有效工作寿命。
