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[00242620]基于粒子群解调点光源干涉的三维坐标快速测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201510481974.0

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 中国计量学院

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所在地:浙江杭州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种基于粒子群解调点光源干涉的三维坐标快速测量方法,本发明充分考虑了测量探头在测量过程中可能出现的状态,建立的数学模型将探头的运动状态量分为位置量与旋转量,以此简化迭代算法在搜索解过程中的难度;本发明具有该简单易行,误差来源少,效率高,精度高,且同时满足高效、便携、实时、快速的测量需求的特点。
摘要:本发明公开了一种基于粒子群解调点光源干涉的三维坐标快速测量方法,本发明充分考虑了测量探头在测量过程中可能出现的状态,建立的数学模型将探头的运动状态量分为位置量与旋转量,以此简化迭代算法在搜索解过程中的难度;本发明具有该简单易行,误差来源少,效率高,精度高,且同时满足高效、便携、实时、快速的测量需求的特点。

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