[00243012]高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201210412408.0
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国地质科学院矿产综合利用研究所
进入空间
所在地：四川成都市
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-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法，具体流程是通过氢氟酸盐酸加热除硼，王水提取可溶性盐类，超纯水定容，原子吸收光谱仪与电感耦合等离子体发射光谱仪测定，实现对高纯硼酸样品中痕量杂质元素的定量富集与分析测定；本发明以氢氟酸除硼，试剂用量少，样品空白低，去除硼酸基体以利于样品上机分析，使用包含原子吸收光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪在内的原子光谱可实现对单/多元素的同时测定，本发明适用于高纯硼酸样品中痕量杂质元素的分析测定，具有检出限低，灵敏度高，线性范围广等优点，平均单个高纯硼酸样品处理时间不超过2小时。
本发明公开了高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法，具体流程是通过氢氟酸盐酸加热除硼，王水提取可溶性盐类，超纯水定容，原子吸收光谱仪与电感耦合等离子体发射光谱仪测定，实现对高纯硼酸样品中痕量杂质元素的定量富集与分析测定；本发明以氢氟酸除硼，试剂用量少，样品空白低，去除硼酸基体以利于样品上机分析，使用包含原子吸收光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪在内的原子光谱可实现对单/多元素的同时测定，本发明适用于高纯硼酸样品中痕量杂质元素的分析测定，具有检出限低，灵敏度高，线性范围广等优点，平均单个高纯硼酸样品处理时间不超过2小时。
