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[00256848]一种钙华介电常数测试样品的制备方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710563473.6

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 西南科技大学

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所在地:四川绵阳市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

摘要:本发明本发明提供了一种钙华介电常数测试样品的制备方法,包括以下步骤首先提供钙华颗粒,将钙华颗粒与水混合,压制成型,得到致密钙华;其中,水的用量为钙华颗粒质量的10~16%;随后将得到的致密钙华进行表面镀金处理,得到钙华介电常数测试样品。本发明采用将钙华颗粒进行压制的方式,实现了将无规则形状的钙华转化为规则形状的样品进行测试,避免直接对无规则钙华进行测试出现“掉粉”,进而降低测试误差的问题;本发明通过将钙华颗粒与水混合后再压制成型,并严格控制混合用水的用量,确保压制成型后的钙华的塑性,避免钙华颗粒直接压制出现大面积的“掉粉”,减少测试误差。
摘要:本发明本发明提供了一种钙华介电常数测试样品的制备方法,包括以下步骤首先提供钙华颗粒,将钙华颗粒与水混合,压制成型,得到致密钙华;其中,水的用量为钙华颗粒质量的10~16%;随后将得到的致密钙华进行表面镀金处理,得到钙华介电常数测试样品。本发明采用将钙华颗粒进行压制的方式,实现了将无规则形状的钙华转化为规则形状的样品进行测试,避免直接对无规则钙华进行测试出现“掉粉”,进而降低测试误差的问题;本发明通过将钙华颗粒与水混合后再压制成型,并严格控制混合用水的用量,确保压制成型后的钙华的塑性,避免钙华颗粒直接压制出现大面积的“掉粉”,减少测试误差。

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