[00264537]基于散斑技术的梯度材料耦合应变场原位测量系统及方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610653678.9
交易方式：
技术转让
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联系人：
四川大学
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所在地：四川成都市
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对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种基于散斑技术的梯度材料耦合应变场原位测量系统及方法。将基于电子显微系统取像的数字散斑相关方法应用到梯度材料微尺度耦合应变场的原位观测中，克服了梯度材料因微尺度的迁移性耦合界面造成耦合效果在时间、空间上分布不均匀而无法使用传统宏、细观力学实验方法有效表征耦合过程的问题。利用电刻蚀方法制备出高质量的微纳米尺度散斑，克服了传统方法所制备异质颗粒散斑尺寸不够细小、均匀性差、灰度强度梯度低、操作复杂、经济成本高、可能不适合电子场成像、粘接弱则易脱落、粘接强则会约束试样表面变形并扭曲甚至覆盖微小的梯度耦合应变分量的缺点。
摘要：本发明公开了一种基于散斑技术的梯度材料耦合应变场原位测量系统及方法。将基于电子显微系统取像的数字散斑相关方法应用到梯度材料微尺度耦合应变场的原位观测中，克服了梯度材料因微尺度的迁移性耦合界面造成耦合效果在时间、空间上分布不均匀而无法使用传统宏、细观力学实验方法有效表征耦合过程的问题。利用电刻蚀方法制备出高质量的微纳米尺度散斑，克服了传统方法所制备异质颗粒散斑尺寸不够细小、均匀性差、灰度强度梯度低、操作复杂、经济成本高、可能不适合电子场成像、粘接弱则易脱落、粘接强则会约束试样表面变形并扭曲甚至覆盖微小的梯度耦合应变分量的缺点。
