[00267191]基于干涉条纹图处理测量透明介质折射率分布的方法
交易价格：
面议
所属行业：
其他仪器仪表
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510034035.1
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
四川大学
进入空间
所在地：四川成都市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明涉及一种基于干涉条纹图的处理来测量透明介质折射率分布的方法，属于物质折射率测量技术领域。该方法是利用立体分光棱镜分光面干涉产生干涉条纹图，再通过计算改变输入光透过待测样品与参考介质的光程差所产生的干涉条纹移动数来进行待测透明介质折射率分布的测量；以及提供实现测量方法的测量装置。本发明测量方法不仅可对均匀透明介质折射率进行更高精度测量；而且还能对非均匀透明介质折射率分布进行测量。本发明的测量方法及其测量装置在保证测量精度和稳定性的前提下，还具有减少测量次数，缩短测量时间，以及简化数据处理的优点。
本发明涉及一种基于干涉条纹图的处理来测量透明介质折射率分布的方法，属于物质折射率测量技术领域。该方法是利用立体分光棱镜分光面干涉产生干涉条纹图，再通过计算改变输入光透过待测样品与参考介质的光程差所产生的干涉条纹移动数来进行待测透明介质折射率分布的测量；以及提供实现测量方法的测量装置。本发明测量方法不仅可对均匀透明介质折射率进行更高精度测量；而且还能对非均匀透明介质折射率分布进行测量。本发明的测量方法及其测量装置在保证测量精度和稳定性的前提下，还具有减少测量次数，缩短测量时间，以及简化数据处理的优点。
