[00268149]基于表面等离子体耦合发射效应的光场成像系统
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510419513.0
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
深圳大学
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种基于表面等离子体耦合发射效应的光场成像系统。该系统包括光源单元、激光投射单元、检测单元、计算及控制系统、载物台；载物台上放置有载玻片，所述光源单元产生激光并将其耦合到激光投射单元，激光投射单元将激光投射到载玻片上；其特征在于，载玻片的受光面覆盖有金属纳米薄膜，该金属纳米薄膜表面吸附有一金属纳米颗粒；当该金属纳米颗粒位于光场内时，该金属纳米颗粒产生散射光，该散射光中满足SP波矢匹配条件的成分由于表面等离子体耦合发射效应，在表面等离子体共振角产生SPCE信号；计算及控制系统用于通过移动载物台使金属纳米颗粒位于激光的光场内的不同位置，并通过检测单元检测金属纳米颗粒位于各位置时所产生的SPCE信号的强度，并据此生成光场的光强分布。
摘要：本发明涉及一种基于表面等离子体耦合发射效应的光场成像系统。该系统包括光源单元、激光投射单元、检测单元、计算及控制系统、载物台；载物台上放置有载玻片，所述光源单元产生激光并将其耦合到激光投射单元，激光投射单元将激光投射到载玻片上；其特征在于，载玻片的受光面覆盖有金属纳米薄膜，该金属纳米薄膜表面吸附有一金属纳米颗粒；当该金属纳米颗粒位于光场内时，该金属纳米颗粒产生散射光，该散射光中满足SP波矢匹配条件的成分由于表面等离子体耦合发射效应，在表面等离子体共振角产生SPCE信号；计算及控制系统用于通过移动载物台使金属纳米颗粒位于激光的光场内的不同位置，并通过检测单元检测金属纳米颗粒位于各位置时所产生的SPCE信号的强度，并据此生成光场的光强分布。
