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[00274126]斜视滑动聚束SAR的子孔径波数域成像方法

交易价格： 面议

所属行业： 检测仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201510052130.4

交易方式： 技术转让技术转让技术入股

联系人：南京航空航天大学

进入空间

所在地：江苏南京市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明公开了一种斜视滑动聚束SAR的子孔径波数域成像方法，针对斜视情况对传统滑动聚束SAR子孔径法进行了改进。首先将全孔径重叠划分子孔径，将适用于斜视情况的扩展波数域方法作为子孔径基本成像方法，然后在距离多普勒域采用改进的BAS方法完成方位向处理并实现子孔径拼接，得到斜视情况下的全孔径图像。本发明克服了斜视滑动聚束SAR存在的数据量大、方位多普勒中心非零、以及多普勒带宽过大的问题，具有较大的实用价值。

[00274126]斜视滑动聚束SAR的子孔径波数域成像方法

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