[00277930]一种基于数字射线成像技术探测器响应曲线的金属合金材料散射比测量方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610024783.6
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
南昌航空大学
进入空间
所在地：江西南昌市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种基于数字射线成像技术探测器响应曲线的金属合金材料散射比测量方法。其测量方法为：首先利用剂量仪和数字射线探测器来获取数字探测器对X射线的响应特性曲线，然后分别在宽束和窄束两种条件下，将待测金属材料阶梯试块放在X射线透照场中，选取一系列不同的管电压和曝光量进行单壁垂直透照，从获取阶梯试块数字图像上读出宽束和窄束条件下各阶梯的灰度值，利用数字探测器响应特性曲线找出各灰度所对应的曝光量，进而计算出不同电压下金属合金材料对应的散射比。本发明的优点是：与传统的基于胶片的射线照相技术的测量方法相比，简单，高效，可操作性强，重复性好，可以实现对大多数金属合金材料的射线散射比测量。
摘要：本发明公开了一种基于数字射线成像技术探测器响应曲线的金属合金材料散射比测量方法。其测量方法为：首先利用剂量仪和数字射线探测器来获取数字探测器对X射线的响应特性曲线，然后分别在宽束和窄束两种条件下，将待测金属材料阶梯试块放在X射线透照场中，选取一系列不同的管电压和曝光量进行单壁垂直透照，从获取阶梯试块数字图像上读出宽束和窄束条件下各阶梯的灰度值，利用数字探测器响应特性曲线找出各灰度所对应的曝光量，进而计算出不同电压下金属合金材料对应的散射比。本发明的优点是：与传统的基于胶片的射线照相技术的测量方法相比，简单，高效，可操作性强，重复性好，可以实现对大多数金属合金材料的射线散射比测量。
