[00278011]基于三角波条纹离焦的条纹反射三维测量方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510235044.7
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
南昌航空大学
进入空间
所在地：江西南昌市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了基于三角波条纹离焦的条纹反射三维测量方法，由三角波条纹编码原理、离焦投影系统、条纹反射三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是：（1）三角波条纹经过离焦投影，在参考平面上得到正弦条纹，与二进制条纹投影离焦情况相比，三角波条纹离焦程度更浅，只需在轻微离焦状态下便可得到理想的正弦条纹；(2)由于采用三角波条纹离焦的方法，相对于正弦条纹聚焦投影，LED显示器与参考平面之间的距离可以增大，对高光、高反射的镜面或类镜面物体的测量选择性变大，可以测量更大物体的三维面形，增大了测量范围。（3）采用了三角波条纹离焦的方法，可以减小gamma效应，从而进一步提高测量精度。
摘要：本发明公开了基于三角波条纹离焦的条纹反射三维测量方法，由三角波条纹编码原理、离焦投影系统、条纹反射三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是：（1）三角波条纹经过离焦投影，在参考平面上得到正弦条纹，与二进制条纹投影离焦情况相比，三角波条纹离焦程度更浅，只需在轻微离焦状态下便可得到理想的正弦条纹；(2)由于采用三角波条纹离焦的方法，相对于正弦条纹聚焦投影，LED显示器与参考平面之间的距离可以增大，对高光、高反射的镜面或类镜面物体的测量选择性变大，可以测量更大物体的三维面形，增大了测量范围。（3）采用了三角波条纹离焦的方法，可以减小gamma效应，从而进一步提高测量精度。
