[00285787]一种测定表面电荷的方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201710498660.0
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
暨南大学
进入空间
所在地：广东广州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种测定表面电荷的方法，用于对表面粗糙且不规则的颗粒或膜状物的表面电荷分布状态及其电荷密度作可视化定量测定，将待测物置于缓冲液中，加入与待测物表面电荷相异号电荷的荧光纳米粒子，荧光纳米粒子与待测物表面的电荷因静电吸引作用而结合，洗掉未结合到待测物表面电荷的自由荧光纳米粒子，通过将待测物置于荧光显微镜下进行荧光成像观察荧光纳米粒子的荧光分布状态与强度，从其荧光分布状态可确定待测物表面电荷的分布状态，通过测定每一点的荧光强度可确定该点的电荷密度。该方法操作简便、快速，能可视化检测具各种表面形态包括相当复杂粗糙且不规则表面的颗粒或膜状物的表面电荷三维分布状态，检测分辨率为数十纳米。
摘要：本发明公开了一种测定表面电荷的方法，用于对表面粗糙且不规则的颗粒或膜状物的表面电荷分布状态及其电荷密度作可视化定量测定，将待测物置于缓冲液中，加入与待测物表面电荷相异号电荷的荧光纳米粒子，荧光纳米粒子与待测物表面的电荷因静电吸引作用而结合，洗掉未结合到待测物表面电荷的自由荧光纳米粒子，通过将待测物置于荧光显微镜下进行荧光成像观察荧光纳米粒子的荧光分布状态与强度，从其荧光分布状态可确定待测物表面电荷的分布状态，通过测定每一点的荧光强度可确定该点的电荷密度。该方法操作简便、快速，能可视化检测具各种表面形态包括相当复杂粗糙且不规则表面的颗粒或膜状物的表面电荷三维分布状态，检测分辨率为数十纳米。
