[00293499]一种位相物体位相分布的定量测量方法和装置及其应用
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201210402898.6
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
华南师范大学
进入空间
所在地：广东广州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开一种位相物体位相分布的定量测量方法和装置及其应用。该方法为将平行光投射到位相物体上，经过成像透镜，得到位相物体的明场像；沿着光束方向，在成像透镜后的频谱面上放置滤波器吸收物体的零级频谱，得到位相物体的暗场像；根据两幅图像所携带的信息及像光强的理论表达式，利用图像处理技术分析明场像和暗场像，得到位相物体的每一点位相值，重构位相物体的位相分布或图像。实现该方法的装置为沿着光束前进方向，光源、扩束透镜、针孔滤波器、准直透镜、用于放置位相物体的装置、成像透镜、用于吸收位相物体零级频谱的滤波器和面阵光电探测器依次排列。本发明实现了位相物体的定量测量，测量位相范围0～π，装置简单，成本低。
摘要：本发明公开一种位相物体位相分布的定量测量方法和装置及其应用。该方法为将平行光投射到位相物体上，经过成像透镜，得到位相物体的明场像；沿着光束方向，在成像透镜后的频谱面上放置滤波器吸收物体的零级频谱，得到位相物体的暗场像；根据两幅图像所携带的信息及像光强的理论表达式，利用图像处理技术分析明场像和暗场像，得到位相物体的每一点位相值，重构位相物体的位相分布或图像。实现该方法的装置为沿着光束前进方向，光源、扩束透镜、针孔滤波器、准直透镜、用于放置位相物体的装置、成像透镜、用于吸收位相物体零级频谱的滤波器和面阵光电探测器依次排列。本发明实现了位相物体的定量测量，测量位相范围0～π，装置简单，成本低。
