[00294245]一种用于集成电路封装中的X射线图像小波同态滤波方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201310561417.0
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
华南理工大学
进入空间
所在地：广东广州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：发明公开了一种用于集成电路封装中的X射线图像小波同态滤波方法，包括以下步骤：(1)采集被封装元器件的X射线图像，得到X射线图像f(x，y)；(2)对所述X射线图像f(x，y)进行对数变换，得到变换图像lnf(x，y)；(3)通过小波变换将图像lnf(x，y)从空间域变换到频率域，得到频率域图像F(s，t)；(4)选择同态滤波函数H(s，t)，对频率域图像进行同态滤波，得到小波同态滤波后图像G(s，t)；(5)对频率域图像G(s，t)进行小波反变换，得到空间域图像g(x，y)；(6)对图像g(x，y)进行指数变换，得到最后的处理图ff(x，y)。本发明实现了集成电路封装过程的X射线图像噪声的有效去除，并且具有计算速度快，操作便捷的优点。
摘要：发明公开了一种用于集成电路封装中的X射线图像小波同态滤波方法，包括以下步骤：(1)采集被封装元器件的X射线图像，得到X射线图像f(x，y)；(2)对所述X射线图像f(x，y)进行对数变换，得到变换图像lnf(x，y)；(3)通过小波变换将图像lnf(x，y)从空间域变换到频率域，得到频率域图像F(s，t)；(4)选择同态滤波函数H(s，t)，对频率域图像进行同态滤波，得到小波同态滤波后图像G(s，t)；(5)对频率域图像G(s，t)进行小波反变换，得到空间域图像g(x，y)；(6)对图像g(x，y)进行指数变换，得到最后的处理图ff(x，y)。本发明实现了集成电路封装过程的X射线图像噪声的有效去除，并且具有计算速度快，操作便捷的优点。
