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[00294252]一种基于锥束X光FDK算法的混合插值方法

交易价格： 面议

所属行业： 分析仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201310441865.7

交易方式： 技术转让技术转让技术入股

联系人：华南理工大学

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所在地：广东广州市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

摘要：本发明公开了一种基于锥束X光FDK算法的混合插值方法，包括以下步骤：（1）获取锥束X光CT投影数据；（2）对投影数据进行滤波；（3）通过插值法估计投影地址的投影值进行FDK算法反投影重建。本发明在投影数据跳变剧烈的区域重建图像边缘清晰，平均梯度值大于双线性插值法，能很好地保留重建图像的边缘细节。另外，本发明在投影数据平缓变化区域重建图像平滑，均方误差都小于最近邻插值法和双线性插值法，同时能较好地抑制噪声。

[00294252]一种基于锥束X光FDK算法的混合插值方法

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