[00298736]线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201410205977.7
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
黑龙江大学
进入空间
所在地：黑龙江哈尔滨市
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- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法，属于磁致伸缩系数测量领域。为了解决目前磁致伸缩系数的测量方法的测量精度不高的问题。它包括线性调频激光器、第一平面反射镜、薄玻璃板、第二平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、信号处理系统、激励线圈、固定装置和电源电路；利用电源电路对设置在激励线圈中的被测样品加电流，使光电探测器开始接收光束信号，信号处理系统连续采集光电探测器输出的光电流，并对采集到的差频信号进行处理，根据频率与距离之间的关系获得薄玻璃板与第二平面反射镜之间的当前距离，再根据磁致伸缩系数的公式，获得待测样品的磁致伸缩系数。本发明用于测量磁致伸缩系数。
摘要：线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法，属于磁致伸缩系数测量领域。为了解决目前磁致伸缩系数的测量方法的测量精度不高的问题。它包括线性调频激光器、第一平面反射镜、薄玻璃板、第二平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、信号处理系统、激励线圈、固定装置和电源电路；利用电源电路对设置在激励线圈中的被测样品加电流，使光电探测器开始接收光束信号，信号处理系统连续采集光电探测器输出的光电流，并对采集到的差频信号进行处理，根据频率与距离之间的关系获得薄玻璃板与第二平面反射镜之间的当前距离，再根据磁致伸缩系数的公式，获得待测样品的磁致伸缩系数。本发明用于测量磁致伸缩系数。
