[00301100]一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201310467042.1
交易方式:
技术转让
技术转让
技术入股
联系人:
哈尔滨工业大学
进入空间
所在地:黑龙江哈尔滨市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要:一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法,属于颗粒光学特性测量技术领域,解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系,测量颗粒系的反射信号和透射信号,用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况,运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率,本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
摘要:一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法,属于颗粒光学特性测量技术领域,解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系,测量颗粒系的反射信号和透射信号,用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况,运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率,本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。