[00315148]一种半导体材料高温热电性能测量用的特种恒流源及其控制方法
交易价格：
面议
所属行业：
控制系统
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510835103.4
交易方式：
技术转让
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联系人：
厦门立德软件公司
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技术详细介绍
本发明公开了一种半导体材料高温热电性能测量用的特种恒流源及其控制方法；特种恒流源电路包括核心控制电路、基于运算放大器的电流串联负反馈电路、基于MOS管的恒流源电路、选档电路、基准电压产生电路、ADC转换电路和电流换向电路等；控制系统由离散增量式PID电压调节子模块、电流换向子模块、自动切换子模块和核心控制子模块等组成。本发明的特种恒流源具有可靠性高、稳定性高和精度高的特点，能有效地解决半导体材料热电性能随温度变化而引起的非线性测量误差；同时具有自动或手动输出设置能力，不但人性化，还能提高半导体材料热电性能测量的效率；此外，其电流换向功能有效地减少塞贝克和珀尔贴效应对热电性能测量的影响，提高了测量的精度。
本发明公开了一种半导体材料高温热电性能测量用的特种恒流源及其控制方法；特种恒流源电路包括核心控制电路、基于运算放大器的电流串联负反馈电路、基于MOS管的恒流源电路、选档电路、基准电压产生电路、ADC转换电路和电流换向电路等；控制系统由离散增量式PID电压调节子模块、电流换向子模块、自动切换子模块和核心控制子模块等组成。本发明的特种恒流源具有可靠性高、稳定性高和精度高的特点，能有效地解决半导体材料热电性能随温度变化而引起的非线性测量误差；同时具有自动或手动输出设置能力，不但人性化，还能提高半导体材料热电性能测量的效率；此外，其电流换向功能有效地减少塞贝克和珀尔贴效应对热电性能测量的影响，提高了测量的精度。
