技术详细介绍
本发明公开了一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法，主要用于透视测量复合材料构件内部的离面位移分布。该扫描仪基于光学干涉原理，利用宽带光源的空间调制，在CCD相机的像平面上，将被测复合材料构件内部切面的干涉光谱展开，从光谱的相频特性中计算出复合材料构件内部切面的离面位移分布。该扫描仪可以对透明和光学浑浊复合材料构件进行透视测量，特点是轴向轮廓和离面位移的测量分辨率高，测量速度快，适用于复合材料构件力学特性研究及其微小缺陷检测辨识。
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