[00334283]一种高精度微波地表发射率的计算方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
通过小试
专利所属地：中国
专利号：CN201610158222.5
交易方式：
资料待完善
联系人：
北京石油化工学院
进入空间
所在地：北京北京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种高精度微波地表发射率的计算方法，包括：根据所要求的时空分辨率建立规范化的时空物理统一的样本数据集；构建计算地表发射率的模型集；根据所述样本数据集与计算地表发射率的模型集计算得到模拟集；利用线性回归技术根据实测集校正模拟集的系统误差，得到误差校正后的模拟集；采用基于预定可信区间的技术标准选择合适的评价时长；基于贝叶斯理论，采用贝叶斯模型平均的技术方法，用实测集对误差校正后的模拟集进行评价，并得到模拟集中各模型的权重；根据模拟集中各模型的权重结合加权平均法得到地表发射率的计算结果。通过采用本发明公开的方法，可以极大的提高地表发射率的获取精度。
摘要：本发明公开了一种高精度微波地表发射率的计算方法，包括：根据所要求的时空分辨率建立规范化的时空物理统一的样本数据集；构建计算地表发射率的模型集；根据所述样本数据集与计算地表发射率的模型集计算得到模拟集；利用线性回归技术根据实测集校正模拟集的系统误差，得到误差校正后的模拟集；采用基于预定可信区间的技术标准选择合适的评价时长；基于贝叶斯理论，采用贝叶斯模型平均的技术方法，用实测集对误差校正后的模拟集进行评价，并得到模拟集中各模型的权重；根据模拟集中各模型的权重结合加权平均法得到地表发射率的计算结果。通过采用本发明公开的方法，可以极大的提高地表发射率的获取精度。
