[00335094]一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
通过小试
专利所属地：中国
专利号：CN201610008795.X
交易方式：
资料待完善
联系人：
安徽大学
进入空间
所在地：安徽合肥市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及高双折射光纤参数测量领域，具体为一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。现有的拍长测量方法，计算结果依赖的测量参量均较多，导致计算结果误差较大。为解决上述问题，本发明提供一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。测量方法步骤如下：A.测量待测高双折射光纤的长度L；B.搭建以高双折射光纤快轴和慢轴构成干涉光路相位差的干涉仪；C.获得干涉光谱，采集相邻两个极值的波长，计算出极值波长所对应的干涉级数N；D.根据拍长计算公式计算出不同极值波长下的拍长。本发明所述的测量方法，依赖参量少，测量误差小，测量精度高。本发明提供的测量装置，结构简单，易于实现。
摘要：本发明涉及高双折射光纤参数测量领域，具体为一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。现有的拍长测量方法，计算结果依赖的测量参量均较多，导致计算结果误差较大。为解决上述问题，本发明提供一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。测量方法步骤如下：A.测量待测高双折射光纤的长度L；B.搭建以高双折射光纤快轴和慢轴构成干涉光路相位差的干涉仪；C.获得干涉光谱，采集相邻两个极值的波长，计算出极值波长所对应的干涉级数N；D.根据拍长计算公式计算出不同极值波长下的拍长。本发明所述的测量方法，依赖参量少，测量误差小，测量精度高。本发明提供的测量装置，结构简单，易于实现。
