[00792069]新型GESI器件
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非专利
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技术详细介绍
该课题组创新发展的快速辐射加热,超低压化学气相淀积(RRH/VLP-CVD)方法是一种新型的原子级外延方法,达到国际先进水平,建立的全计算机控制的RRH/VLP-CVD系统具有比现有各种CVD设备更多,更强的功能。现拟利用该种设备生长GeSi量子阱、异质结构材料,和有关单位合作开发以下器件:高速GeSi晶体管和集成电路,利用GeSi作基区制成的新型器件GeSiHBT具有优异的高频和低温性能,f<,T>=75GHz,77K下β=1000,可制成高速晶体管和集成电路,具有广泛的应用前景。新型GeSi红外探测器,利用GeSi材料制备的红外探测器,在遥控波段0.93μm有强烈的光响应性能,远优于现普遍采用的SHARP探测器,可用于电视机、录相机等的遥控。材料生长方法和设备已申请国家专利(申请号:901056030)并于1991.6.24通过国家科委主持的鉴定。
该课题组创新发展的快速辐射加热,超低压化学气相淀积(RRH/VLP-CVD)方法是一种新型的原子级外延方法,达到国际先进水平,建立的全计算机控制的RRH/VLP-CVD系统具有比现有各种CVD设备更多,更强的功能。现拟利用该种设备生长GeSi量子阱、异质结构材料,和有关单位合作开发以下器件:高速GeSi晶体管和集成电路,利用GeSi作基区制成的新型器件GeSiHBT具有优异的高频和低温性能,f<,T>=75GHz,77K下β=1000,可制成高速晶体管和集成电路,具有广泛的应用前景。新型GeSi红外探测器,利用GeSi材料制备的红外探测器,在遥控波段0.93μm有强烈的光响应性能,远优于现普遍采用的SHARP探测器,可用于电视机、录相机等的遥控。材料生长方法和设备已申请国家专利(申请号:901056030)并于1991.6.24通过国家科委主持的鉴定。