[00834960]光热辐射测量(PTR)技术的理论和应用研究
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技术详细介绍
光热辐射测量技术（简称ＰＴＲ技术）是８０年代初发展起来的一种新的检测技术。其原理是利用一束被调制的光照射被测样品，样品吸收光后，引进周期性温度涨落和红外辐射的变化，采用适当的红外探测器，即可探测样品产生的光热（红外）信号。信号的振幅和位相与样品的光学性质、热物理性质、表面状态和内部结构等有关。因此，ＰＴＲ技术可用于测量材料的物性、光热光谱分析和材料缺陷的无损检测。在理论上导出了单层和多层样品的振幅和位相表达式，建立了ＰＴＲ的三维理论模型，分析了各种条件下的频率特性，为其应用打下理论基础。在应用上建立了一套透射ＰＴＲ测量装置。该装置可用于检测过程中。