[00901503]一种电连接器贮存条件下接触电阻的计算方法
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技术详细介绍
本发明公开了一种考虑离散应力的电连接器接触性能退化过程的模拟方法,包括：S1,对电连接器接触表面进行测定得到三维W-M函数的初始值；S2,基于三维W-M函数建立两个接触表面模型；S3,基于两个接触表面模型得到两个剖面骨架图；S4,基于预设分量在两个剖面骨架图的对应位置分别选择两条二维曲线,并比较二维曲线的高度,从而判断接触表面产生的是膜层电阻或收缩电阻；以及确定接触斑点与氧化膜斑点的数量和直径；S5,重复执行步骤S4,直至完成X轴区间范围所有二维曲线的选取,从而确定所有氧化膜斑点和接触斑点数量；S6,基于每个接触斑点和氧化膜斑点的直径、所有接触斑点与氧化膜斑点的数量计算得到接触电阻值。