[00922709]新型电子材料及元器件温频特性测试装置
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技术详细介绍
该装置是以金属导热及冷却剂流化吸热原理为设计依据，考虑了制冷、加热、测温、样品室、控制温度的恒温及线性变温等技术要求设计的。该装置可用于测试介质材料、半导体材料、磁性材料、金属合金材料及其元器件频率为直流到１０ＭＨｚ范围，温度从－１８５℃～２５０℃范围内，以恒温或线性变温方式变化的情况。其试验中样品不受冷凝水影响，从仪器到样品的行线测量随温度变化而稳定。经陕西专利事务中心查找，该装置属国内外空白。该装置可代替二箱体的试验方式。它符合ＩＥＣ有关试验方法及技术要求。