[00951272]发射率及温度的反射式单波长测量方法和仪器的研制
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非专利
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技术详细介绍
该项目以基尔霍夫定律为基础,探索出了一种仅在单工作波长下不借助于任何辅助光源就能够准确测量发射率、进而准确测量温度的方法。并以确立的发射率和温度测量方法为基础,研制出了一套能够同时、准确测量待测物体的发射率和温度的仪器。利用该仪器,一方面可以准确测量物体的温度;另一方面还可以建立起物体的发射率随温度等变化的解析函数关系,进而确立具体测量条件下的发射率标定模型、并对生产实践中使用的各种单、双波长被动辐射测温仪器的发射率标定,可以解决这些测温仪器的发射率标定难题,进而能够大幅提高流水线上使用的这些测温仪器的测温精度。该仪器测温范围宽、造价低、测温精度高、受环境影响极小且使用方便,具有良好的经济效益。
该项目以基尔霍夫定律为基础,探索出了一种仅在单工作波长下不借助于任何辅助光源就能够准确测量发射率、进而准确测量温度的方法。并以确立的发射率和温度测量方法为基础,研制出了一套能够同时、准确测量待测物体的发射率和温度的仪器。利用该仪器,一方面可以准确测量物体的温度;另一方面还可以建立起物体的发射率随温度等变化的解析函数关系,进而确立具体测量条件下的发射率标定模型、并对生产实践中使用的各种单、双波长被动辐射测温仪器的发射率标定,可以解决这些测温仪器的发射率标定难题,进而能够大幅提高流水线上使用的这些测温仪器的测温精度。该仪器测温范围宽、造价低、测温精度高、受环境影响极小且使用方便,具有良好的经济效益。