技术简介： 本发明公开了一种光刻方法，用以获得具有不同高度的光刻结构，包括：s1、设计光刻版图形，该光刻版图形包括多个相同的图形单元，所述多个图形单元阵列分布；s2、根据所述的光刻版图形在待加工样…… 查看详细 >
技术简介： 本发明公开了一种利用石英晶体微天平检测可卡因的方法，该方法为：一、制备表面自组装DNA的QCM芯片；二、封闭芯片表面的多余位点；三、制备引发剂标记的DNA溶液；四、采用适配体DNA溶液和引发剂…… 查看详细 >
技术简介： 本发明提出一种半导体微台面列阵的测量装置和方法，该方法基于宽谱热光源照明干涉仪的光学测量装置与方法，结合光学相干层析技术与衍射度量技术的特点，可无损、快速的测量微台面列阵的表面形貌…… 查看详细 >
技术简介： 本发明提供一种制备金属针尖的装置及方法，所述装置包括控制电路及电化学池，控制电路包括电源、开关、恒流源，恒流源用于维持装置电流恒定；电化学池包括对电极、待制备金属丝及电解液，对电极…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：地下管线探测仪用于定位地下电缆、金属管道精确走向和深度以及检测埋地管线外防腐层状况。主要有以下功能：地下管线精确定位、深度测量和长距离管线的跟踪；查找主管道上分支管路…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：1、项目简介凸轮型面误差智能相关测试分析仪是在国家和湖北省自然科学基金项目研究成果的基础上，由武汉市科委支持完成的。在由武汉市科委主持的鉴定会上，鉴定专家一致认为凸轮…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：1、系统组成整个故障诊断系统由传感器系统、信号采集系统、分析诊断和监控系统以及预警系统等4个子系统构成。2、系统功能故障诊断系统各子系统功能如下：传感器系统：测量设备运…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：1．系统选用Freescale的HC08系列MCU作为主控芯片，采用模块化硬件与软件设计方法及多种抗干扰措施，具有较高的可靠性、稳定性，系统软、硬件设计合理，具有较好的可扩充性及可维…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：项目简介：本实验室现有瑞士ARL公司的X′TRA型X射线衍射仪（XRD）、PE公司PyrisDiamond型差示扫描量热仪（DSC）和热重分析仪。目前可提供的技术服务项目有：多晶X射线衍射是研究…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：项目简介：对于自动化程度较高又比较复杂的系统，查找故障确定故障部位是一项技术性非常强的工作。确定固定性故障部位难，确定偶然发生即随机性故障部位更难!随着科学技术的发展…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：HXF红外密集度光电立靶测试系统（简称光电立靶系统）是高灵敏、高精度、高效率的靶场测试仪器。主要用来精确测定单发或连发低伸射击武器的弹丸着靶坐标，同时也能测量飞行弹丸的…… 查看详细 >
技术简介： 技术投资分析：HXHW天幕靶是一种以红外器件为光电信号转换装置的大视场角，用以探测飞行弹丸到达空间某一预定位置时刻的仪器，与测时仪配合使用，可以完成弹丸飞行速度的测试；与示波器配合，观…… 查看详细 >
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