技术详细介绍
本实用新型公开一种谷物超弱发光检测装置，包括箱体、光电倍增管、旋转样品台；光电倍增管放置在箱体内的一侧；旋转样品台放置在箱体内，与所述的光电倍增管相对应的位置。本实用新型通过简单的参数设置和硬件连接，有效地实现大米新陈度准确、快速、无损检测。
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